V dnešní době miniaturizace součástek v elektronickém průmyslu, zmenšování částic výchozích surovin ve stavebním průmyslu, plnění polymerních materiálů nanočásticemi za účelem získání unikátních vlastností a především ve vědě je nezbytné vědět, jak vypadá náš vzorek. K tomuto účelu nejlépe poslouží skenovací elektronový mikroskop, který je schopen dosáhnout zvětšení 25× – 1 000 000×.
Skenovací elektronová mikroskopie se stala v 70. letech minulého století jednou z nejrozvíjenějších metod pozorování vzorků. V současnosti jsou schopny, nejlepší skenovací elektronové mikroskopy, dosáhnout rozlišení až 0,4 nm a zvětšení 1 000 000×. Principem pozorování v skenovacím elektronovém mikroskopu je interakce primárních elektronů s povrchem vzorku za uvolnění sekundárních elektronů, které jsou snímány detektory. Detekovány jsou sekundární elektrony (SE), což jsou primárním svazkem excitované elektrony z vnějších slupek atomů a odražené elektrony (BSE), které jsou ovlivněny atomovým jádrem.Detekce sekundárních elektronů (SE) nám přináší informaci o reliéfu vzorku s velkým rozlišením a se značně velkou hloubkou ostrosti nedosažitelnou optickými mikroskopy (viz. obrázek 2). Detekce odražených elektronů (BSE) přináší více informací o vzorku. Lze pracovat v topografickém režimu (TOPO – obr. 3), kde je viditelný pouze topografický profil vzorku. Nejpřínosnějším režimem BSE je kompozitní režim (COMPO – obr. 4), kde jsou od sebe rozlišeny oblasti s odlišným prvkovým složením (viditelný chemický kontrast) – oblast s prvky s nízkým protonovým číslem jsou tmavé, oblasti s prvky s vyšším protonovým číslem jsou světlé. Na Fakultě chemické VUT v Brně na pracovišti Centra materiálového výzkumu jsou naistalovány dva skenovací elektronové mikroskopy. Prvním z nich je mikroskop JEOL JSM-7600F s rozlišovací schopností až 0,8 nm a zvětšením 1 000 000×. Druhým mikroskopem je ZEISS EVO LS 10 s rozlišením 3 nm a zvětšením až 1 000 000×, který je schopen pracovat do tlaku až 3000 Pa a možností chlazení či ohřívání vzorku. Centrum materiálového výzkumu je tedy schopné nabídnout zobrazení jakýchkoliv materiálů (kovy, plasty, textil, papír, keramika…) a vyhovět tedy veškerému průmyslu v ČR i zahraničí.
1. ing. Milan Maxa Reagovat 17:57, 16. 06. 2012
Zdvořile prosím o tato sdělení: 1. Jaké jsou přibližné ceny výše uvedených mikroskopů JEOL a ZEISS? 2. Poskytuje vaše pracoviště služby v oblasti elektronové skenovací mikroskopie pro externí pracoviště a jaká je přibližná cena takové služby? Děkuji za odpověď. Milan Maxa
2. Jaromír Wasserbauer Reagovat 10:20, 20. 08. 2012
Reaguje na [1]: Dobrý den. K první otázce: ceny mikroskopů i s detektory se pohybují kolem 15 mil Kč. K druhé otázce: Naše pracoviště poskytuje služby i pro externí pracoviště a je to zároveň i cílem - rozšíření spolupráce s průmyslem i dalšími vědními obory. Ceny jsou značně odlišné od materiálu, který je zkoumán, až po typ analýz jaké jsou potřeba provést. Průměrně se však pohybují kolem 1900 Kč za hodinu (na SEM). S pozdravem, Jaromír Wasserbauer.