Obor:
BiotechPoint, EnviroPoint, NanoMedicPoint, Organická elektronika, PhotoChemPoint, PlazmaPoint, PolymerPoint, SiliPoint
Nabízí:
Služby
Autor: Oldřich Zmeškal
- Vysoké učení technické v Brně (Fakulta chemická)
Nabízíme měření tlouštěk a zpracování tloušťkového profilu tenkovrstvých systémů, charakterizaci jejich optických a dielektrických vlastností na základě optické elipsometrie.
Charakterizace bude provedena na špičkovém přístroji UVISEL2 od firmy HORIBA. Nejnovější model tohoto přístroje se vyznačuje velkou přesností, širokým rozsahem měřených veličin, širokým pásmem vlnových délek a relativně velkou plochou, kterou je možno charakterizovat (202×202) mm. Celý přístroj je plně automaticky řízen, zpracování výsledků je podporováno rozsáhlou databází referenčních materiálů.
Vybavení laboratoře umožňuje
- stanovit tloušťky tenkých vrstev (i vícevrstvých transparentních systémů) od několika angströmů po desítky mikrometrů, stanovittloušťkovou homogenitu vrstev,
- určit jejich komplexní indexy lomu, tj. indexy lomu a extinkční koeficienty v NIR, VIS, UV (disperzní závislosti v rozsahu vlnových délek 190 nm–2100 nm) a komplexní dielektrické konstanty,
- stanovit strukturu/mikrostrukturu a krystalinitu materiálů
- měřit reflexní a transmisní (absorpční) spektra tenkých vrstev.
Zařízení umožňuje komplexní stanovení optických parametrů a charakteristik všech transparentních nebo semi-transparentních systémů, povrchových ochranných vrstev a povlaků. Uplatnění najde také při charakterizaci materiálů a vrstev pro optoelektronické, senzorické a optické aplikace a to jak anorganických tak organických materiálů.
Příklady aplikací a materiálů:
- Chemie a biologie: Polymery, nízkomolekulární látky, lipidy, adheze proteinů
- Opticky aktivní povrchy: Vlnovody, zrcadla, antireflexní povrchy, barevné filtry, solární články
- Elektronika: Amorfní křemík, oxidy, nitrily, rezisty dielektrické materiály, kovy, slitiny
